新着情報
- 2023年8月22日 バウンダリスキャン研究会で発表します
- 2023年5月1日 偽物ICの大規模調査のお知らせ
- 2024年3月10日 展示会「未踏会議」に出展しました
- 2023年11月23日 展示会「DSF2023」に出展しました
- 2023年11月15日 真贋判定サービスを開始しました
- 2023年4月28日 まもなく半導体試験装置が稼働します
- 2023年2月4日 開発日記のページを作成しました
- 2022年12月25日 検査依頼フォームを実装しました
- 2022年12月23日 ユーザ登録機能を実装しました
- 2022年12月19日 当サイトをオープンしました
流通在庫に潜むリスク
知らずに偽造ICを実装すると大損害に・・
半導体の長納期化やディスコンなどで、目的の半導体が手に入らない場合は流通在庫から調達せざるを得ません。
しかしながら流通在庫には偽物ICも多く含まれていると言われており、そのままでは安心して使用することができません。
もし、偽造ICを実装してしまうと、基板が動作しないだけではなく、正常に動作していたICや電子部品まで壊してしまいます。偽物を掴んだ場合の膨大なコストと、納期の遅延、損害は計り知れません。
流通在庫のICにはリスクが伴うので、確実に動作する本物であることを確認してから実装することが重要です。
流通在庫は判定してから使おう
全ピン電気的検査で100%の安心を保証します
そこで当社は、流通在庫のICが本物か偽物かを判別し、出どころ不明な半導体が安心して使えるようにするためのIC真贋判定サービス「シン・IC」を開発いたしました。このサービスはFPGA, CPLD, CPUなど、多ピンのディジタルICに特化した真贋判定サービスです。
安心して流通在庫を使える未来へ
X線や外観検査だけではわからない偽造品を100%判別
従来からICの真贋判定にはX線や外観検査、I-V検査が用いられてきましたが、それらはディジタルICの検査が苦手でした。
当社の開発したシンICでは多ピンのディジタルICに特化した検査です。従来の方法と相互に補完しあうことで、安心して流通在庫のICを使うことができるようになります。
納期の短縮と部品調達コストの削減、そして流通在庫使用のリスクを低減します。ディスコンのため流通在庫でしか手に入らないICも使用できるようになり、お客様の製品寿命を延ばします。
この事業は中小企業庁・経済産業省の「第6回 事業再構築補助金」に採択され、開発されています